膜厚测定装置
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角
光谱角分布测量系统
光谱测量系统  光谱角分布测量系统  光谱角分布测量系统的特点 光谱角分布测量系统的技术  光谱角分布测量系统的功能 光谱角分布测量系统的波长 光谱角分布测量系统简图
美国SVC HR-1024便携式地物光谱仪
根据20年在遥测领域方面的经验，Spectra Vista公司再次在便携式分光辐射度计的领域上提高了其技术水平。其新式的SVC HR-1024全光谱地物波谱仪能够在整个VIS-NIR-SWIR领域内获取高的光谱分辨率。
显微紫外可见近红外分光光度计
MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过・反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过・反射特性的评价、半导体的能隙测量，计测膜厚、功能性结晶光学特性评价、色彩分析等领域。
2021离子通道研究 欧罗拉专利离子通道阅读器 ICR
Aurora公司的离子通道阅读器技术不仅可应用于在细胞水平表达的离子通道靶点，也可应用在合成小泡中表达的离子转运通道或者孔形成蛋白。
超低硫检测仪
这台可携带到操作现场的分析仪非常适用于超低硫检测，完全遵照国际新严格的硫浓度标准检测，例如：ASTM D7212,D4294,ISO20847，IP531。 适用于野外和实验室的低硫检测。 50Kv/50W EDXRF的系统能得出灵敏、精确、实时的检测结果。